便攜式礦石分析儀Compass-300真空型礦石成分分析光譜儀?

X射線光譜現(xiàn)場分析技術(shù)是采用現(xiàn)場X射線光譜儀在采樣現(xiàn)場對待測目標(biāo)體中元素進行快速地定性和定量分析技術(shù), 又稱為現(xiàn)場X射線熒光礦石分析儀。 根據(jù)現(xiàn)場分析的應(yīng)用場景與采樣方法, X射線光譜現(xiàn)場分析可分為X射線光譜現(xiàn)場原位分析和X射線光譜現(xiàn)場取樣分析。 現(xiàn)場原位分析是指將X射線光譜分析儀的探測窗直接置于巖(礦)石露頭或土壤或其他待測物料的表面, 在現(xiàn)場原生條件下獲取待測目標(biāo)體中元素種類和元素含量的分析方法; 現(xiàn)場取樣分析是指對待測目標(biāo)體進行樣品采集, 甚至于對樣品進行初步的加工和處理, 在現(xiàn)場工作條件下應(yīng)用X射線光譜儀獲取待測目標(biāo)體中元素種類和元素含量的分析方法。

礦石實驗室分測試析的對象和任務(wù)要求分析測試方法具有檢出限低、檢測范圍寬、較高的準(zhǔn)確度和精密度。地球化學(xué)樣品的成分分析方法有傳統(tǒng)的化學(xué)分析法、電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法（ICP-AES）、電感耦合等離子體質(zhì)譜（ICP-MS）、原子吸收光譜（AAS）、X射線熒光光譜（XRF）法等。化學(xué)分析法雖然使用儀器簡單，但對操作技術(shù)的要求高、操作比較繁瑣，使用大量的酸堿等化學(xué)試劑，分析流程較長，很難滿足日常生產(chǎn)的需求。同樣ICP-AES、ICP-MS、原子吸收光譜法在樣品前處理過程中也常用大量化學(xué)試劑，造成環(huán)境污染。基于X射線熒光光譜法的礦石成分分析儀Compass300具有樣品前處理簡單、分析周期短、重現(xiàn)性好、可同時測定多元素、測試成本低等優(yōu)點。

Compass 300能量色散X射線熒光（EDXRF）基于臺式機的設(shè)計平臺，其分析性能更接近于功率更高的落地式光譜儀，比一般便攜式設(shè)備測試效果更穩(wěn)定，更出眾。配備*的SDD檢測器， 同時實現(xiàn)了高分辨率，高計數(shù)率CPS和高靈敏度，從而達到實驗室級別的測試效果。

•Compass 300配備的SDD檢測器優(yōu)勢

>高分辨率：通常優(yōu)于130ev，降低相鄰元素干擾，并提高輕元素檢測效果

>高計數(shù)率：150,000 cps (high count per second)

得到相同的強度，只要普通Si Pin檢測器的0.2~0.05倍的時間，即Si Pin在設(shè)定分析時間為100秒的話，對SDD而言，得到相同的強度，只需5~20秒

>高靈敏度：靈敏度提高6-10倍。低背景值，提高元素檢測下限

•便攜，堅固，緊湊的設(shè)計，輕松實現(xiàn)現(xiàn)場高精度樣品無損檢測

•可分析各種樣品形態(tài)：包括礦體、礦塊、礦渣、礦粉、粗礦、精礦、尾礦、土壤、泥土、泥漿、灰塵、粉塵、過濾物、薄膜、廢水、廢油、液體樣品等

•只需制備少量樣品便可進行無損檢測

•一鍵測試，一鍵打印報告

•可選配大容量電池，無需外部供電情況下可實現(xiàn)長時間工作

應(yīng)用領(lǐng)域

>分析礦種

涵蓋從Mg至U之間的金屬、非金屬、貴重金屬和稀有金屬礦等

>勘查

多元素現(xiàn)場快速分析，可廣泛應(yīng)用于普查、詳查的各個過程，追蹤礦化異常，擴展勘查范圍。可大大減少送回實驗室樣品的數(shù)量，從而節(jié)約運輸和分析費用

>巖芯檢測

快速分析巖芯和和其他鉆探樣品，建立礦山三維圖，分析儲量，可大大提高鉆探現(xiàn)場及時決策效率

>開采過程控制

礦體邊界圈定，礦脈走向判定，對開采過程進行精確管理和控制，對礦石品位進行隨時檢測

>品位控制

對精礦、礦渣、礦尾等礦物品位進行精確快速分析，為礦物貿(mào)易、加工以及再利用提供價值判斷依據(jù)

>環(huán)境分析

快速對礦石周圍環(huán)境、尾礦、粉塵、土壤污染等進行分析與檢測，評估礦石環(huán)境修復(fù)效果

>石油化工：燃料，潤滑油，添加劑中的硫元素分析，磨損金屬分析

>刑偵及公安：證據(jù)分析，材料匹配，爆炸物等

>食品，化妝品和藥品：添加劑控制，原材料，有害金屬，包裝材料等

技術(shù)參數(shù)