為了滿(mǎn)足客戶(hù)日益更為嚴(yán)苛的測(cè)試需求，特別是對(duì)微量痕量元素測(cè)試靈敏度和穩(wěn)定性的更高標(biāo)準(zhǔn)，英飛思ESI全新開(kāi)發(fā)了升級(jí)版EDX8000B---RoHS符合性XRF檢測(cè)光譜儀。相較于基礎(chǔ)版本的Si-pin硅針檢測(cè)器，EDX8000B裝備了SDD硅漂移檢測(cè)器。更高的樣品X光能量數(shù)據(jù)通量，更好的光譜分辨率，使得檢測(cè)性能提高了2-3倍。

EDX8000B的優(yōu)勢(shì)：

•更快---由于單位時(shí)間內(nèi)可以獲得更高樣品信號(hào)通量，使得測(cè)量時(shí)間大幅減少。100秒即可達(dá)到普通版本儀器200秒的測(cè)量效果

•更準(zhǔn)---多道分析器DPP可實(shí)現(xiàn)超過(guò)100,000 cps的線性計(jì)數(shù)速率而同時(shí)保證光譜分辨率，通常優(yōu)于130 eV（普通Si-pin探測(cè)器為160eV），以更好地分離不同元素的光譜。同時(shí)，強(qiáng)大的基于Windows的FP（基本參數(shù)算法）軟件降低了基體元素間吸收增強(qiáng)效應(yīng)，并同時(shí)考慮到不同基體對(duì)光譜強(qiáng)度變化的干擾，把測(cè)試準(zhǔn)確度提高到了新的水平

•更穩(wěn)---使用超大面積25 mm2鈹窗SDD檢測(cè)器(普通Si-pin檢測(cè)器6mm²),該款檢測(cè)器可在相同樣品激發(fā)條件下獲得2-3倍于普通檢測(cè)器的光譜強(qiáng)度（計(jì)數(shù)率CPS），從而得到更好的測(cè)試穩(wěn)定性和長(zhǎng)期重復(fù)性。與傳統(tǒng)的Sipin版本臺(tái)式儀器相比，EDX8000B光譜儀可以全功率運(yùn)行，因此實(shí)現(xiàn)了更為穩(wěn)定和可靠的測(cè)試表現(xiàn)

>>圖2-1，2-2可以清晰的看到，同樣測(cè)試條件下，8000B獲得了更好的Cl氯測(cè)試光譜（圖中紫色部分為Cl元素光譜線，右圖Cl峰形更高，信噪比更好，分辨率更優(yōu)，最終表現(xiàn)為更優(yōu)異的測(cè)試結(jié)果）

如何選擇（EDX8000或者EDX8000B）

如果您對(duì)測(cè)試速度有更高的要求，

如果您對(duì)微量元素（小于100ppm）的測(cè)試靈敏度和穩(wěn)定性有更高要求，

EDX8000B無(wú)疑都是好的選擇。

如果您主要關(guān)注性?xún)r(jià)比，EDX8000仍然是非常正確的選擇。

及時(shí)而專(zhuān)業(yè)的售后服務(wù)  

>對(duì)客戶(hù)方操作人員進(jìn)行技術(shù)培訓(xùn)

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