EDX-9000A XRF Spectrometer

能量色散X熒光光譜儀

合金檢測專家

Simply the Best

>一臺無需氬氣和氦氣消耗的高性能合金元素分析光譜儀XRF Analyzer

>媲美直讀光譜儀的檢測性能，無損分析（無需破壞樣品）

>真空測試環境提供最佳輕元素檢測效果（Na,Mg,Al,Si,P）

>高分辨SDD檢測器一次測試可覆蓋多達40種元素

>無需每天重復標定，快速分析，簡單易用

>多組合濾光片系統，有效提高微量元素檢出限

>堅固耐用，適用于于各種復雜而嚴苛的現場工作環境

>高性價比

EDX9000A能量色散熒光光譜儀-合金元素牌號分析專家

合金分析是鑒定樣品化學成分的過程。使用X射線熒光（XRF）光譜儀，不僅能快速確定合金牌號PMI（Positive material identification），而且能準確得到整個合金材料的元素組成。EDX9000A已廣泛用于各種需要合金成分分析的行業，從航空航天測試，原材料分析，質量控制，冶煉，金屬加工，焊接，到廢料回收和快速分類篩檢等領域。

作為一款高性能的臺式能量色散X射線熒光光譜儀，新款EDX9000A配置了*基于Windows基本參數算法的FP（Fundamental parameter）軟件。FP軟件是合金分析的必要條件之一，FP算法能大幅降低合金樣品中各金屬元素間的吸收增強效應，從而來滿足客戶對于各類復雜合金樣品的元素分析需求。

EDX9000A結合了最新的樣品激發和信號檢測技術，使得它的分析性能可以與實驗室分析結果相媲美。通過配備不同濾光片和光路準直器，高功率X射線管，以及美國Amptek的SDD硅漂移檢測器，EDX9000A實現了優秀的硬件組合。

選擇金屬合金分析儀時，客戶通常會重點關注測試準確性，分析速度和設備耐用性，而EDX9000A是對上述三點指標的良好體現。同時，該光譜儀能同時對多種不同類型的合金進行快速定性定量分析，包括：

鎂合金 鋁合金 鈦合金 高合金鋼 中低合金鋼 工具鋼 貴金屬

鈷合金 鎳合金 銅合金 鋅合金 貴重合金 黃銅 青銅 焊錫 等

EDX9000A操作簡單，分析性能出色，還可拓展到以下應用

>涂層厚度和薄膜：分析多層涂層，鋼涂層，雜質等

>電鍍液元素分析

>催化劑貴金屬元素分析

產品特點

作為一款專業為合金元素分析而設計和生產的光譜儀，EDX-9000A兼顧了耐用性，易于操作和高性價比。其顯著優勢主要有

•更快---全程無損分析，一到三分鐘即可出結果（可實時刷新測試結果）

•更準---強大的基于Windows的FP（基本參數算法）軟件降低了基體元素間吸收增強效應，并同時考慮到不同基體對光譜強度變化的干擾，把測試準確度提高到了新的水平

•更穩---使用最新的硅漂移檢測器SDD可得到更好的測試穩定性和長期重復性，該款檢測器可在相同樣品激發條件下獲得更高的光譜強度（計數率CPS）。多道分析器DPP可實現超過100,000 cps的線性計數速率而同時保證優秀的光譜分辨率，通常優于130 eV，以更好地分離不同元素的光譜。與傳統的EDXRF臺式儀器相比，EDX9000A光譜儀可以全功率運行，因此實現了更精準的測試表現

•無需消耗昂貴的氬氣或者氦氣，極大的降低了儀器的使用和維護成本

•無需或者很少的樣品制備，通常簡單的拋光樣品表面后即可上機測試

•不需要每天標定儀器，開機即可檢測，大大提高生產效率，并降低了對標準樣品的依賴

•多重儀器硬件保護系統，并可通過軟件進行全程實時監控, 讓儀器工作更穩定、更安全

•特別設計的光路和真空系統提高了輕元素的測試靈敏度3-5倍(Na, Mg, Al, Si, P)

•友好的用戶界面，可定制的分析報告，可一鍵打印測試報告，包括分析結果，樣品信息，光譜信息和樣品圖像

•八種光路準直系統，根據不同樣品大小自動切換，亦可測試樣品不同位置再求平均值，降低樣品不均勻性造成的誤差

•高清內置攝像頭，清晰地顯示儀器所檢測的樣品部位

合金元素檢測專家EDX9000A

>儀器參數

儀器配置

功能強大而界面友好的測試軟件

界面清晰易用。一鍵測試，簡單易用，無需手動選擇工作曲線，軟件自動匹配樣品基體，即使非專業技術人員也能快速掌握儀器使用方法。

基本參數FP和經驗系數法EC的結合不僅可以分析高純合金，也可以對基體復雜的多雜質樣品進行定性定量分析。FP參數算法的應用，也使得儀器對標準樣品的依賴度大大降低。

>一鍵初始化儀器，基體自動匹配

>自動定性，半定量和定量分析，不同樣品測試譜圖可實時對比

>光譜處理和校正，去除雙倍峰和逃逸峰干擾，降低元素吸收增強效應影響

>光譜背景扣除，有效提高微量元素檢測精度

>可實時刷新測量結果

>簡單的流程欄向導可幫助用戶創建新的自定義標定曲線

>可定制化測試報告，一鍵打印

黃銅樣品10次測試穩定性報告