立式X熒光材料分析光譜儀

簡要描述：ESI英飛思EDX8800M MAX光譜儀主要應用于在第三方實驗室及各種需要進行高精度材料成分分析的場所。
EDX8800M MAX專注于對各種材料的主量，微量和痕量元素或化合物進行定性和定量分析，廣泛應用于：合金材料，貴金屬，鐵礦粉，有色金屬及粉末，冶金，金屬及非金屬礦物礦產(chǎn)，耐火材料、耐火原料、鈦白粉、石膏、催化劑、陶瓷、水泥、石灰、玻璃行業(yè)、石英、長石、方解石、粘土、巖棉、土壤、固廢、除塵灰

產(chǎn)品廠地：蘇州市
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時間：2025-01-08
訪問量：1949

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產(chǎn)品分類

礦產(chǎn)分析儀

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詳細介紹

品牌	英飛思	行業(yè)專用類型	通用
價格區(qū)間	面議	儀器種類	臺式/落地式
應用領域	石油,地礦,能源,鋼鐵/金屬,綜合

EDX-8800M MAX XRF Spectrometer

立式X熒光光譜儀

材料分析專家

立式X熒光材料分析光譜儀

Simply the Best

>立式一體化設計，搭配全新高功率樣品激發(fā)系統(tǒng)和高計數(shù)率探測器

>內(nèi)置真空泵及氦氣充氣系統(tǒng)適應各種材料成分分析，包括固體，液體，合金，粉末和泥漿

>分析涵蓋范圍₁₁Na鈉到 ₉₂U鈾（元素周期表），可分析氧化物。

>超大鈹窗高分辨探測器配合多組合濾光片系統(tǒng)，有效提高微量元素檢出限

>可搭載樣品自旋平臺，有效提高樣品測量面積

>提供多種數(shù)據(jù)訪問接口，可兼容LIMS實驗室管理系統(tǒng)

EDX8800M MAX能量色散熒光光譜儀-材料分析專家

作為一款立式X射線熒光（EDXRF）材料分析儀，EDX8800M MAX配置了高功率X射線激發(fā)系統(tǒng)，同時搭配了高計數(shù)率和高分辨率的FSDD探測器，它提供了出色的線性動態(tài)范圍，可在金屬、水泥、礦物、采礦、玻璃和陶瓷中實現(xiàn)更高精度的過程和質(zhì)量控制。

立式X熒光材料分析光譜儀

ESI英飛思EDX8800M MAX光譜儀主要應用于在第三方實驗室及各種需要進行高精度材料成分分析的場所。

EDX8800M MAX專注于對各種材料的主量，微量和痕量元素或化合物進行定性和定量分析，廣泛應用于：合金材料，貴金屬，鐵礦粉，有色金屬及粉末，冶金，金屬及非金屬礦物礦產(chǎn)，耐火材料、耐火原料、鈦白粉、石膏、催化劑、陶瓷、水泥、石灰、玻璃行業(yè)、石英、長石、方解石、粘土、巖棉、土壤、固廢、除塵灰、赤坭、粉煤灰、稀土永磁、石油油品、爐渣等生產(chǎn)原料及成品化學成分定性定量快速分析，快速準確無損高效環(huán)保，無需酸堿化學藥劑。

EDX8800M MAX應用方向

>RoHS篩選測試，有害金屬快速篩查

>石油化工：燃料，潤滑油監(jiān)測，添加劑，磨損金屬等中的硫元素分析

>環(huán)境：廢水，空氣污染，土壤和地面，排放控制

>涂層厚度和薄膜：分析多層涂層，鋼涂層，雜質(zhì)

>刑偵及公安：證據(jù)分析，材料匹配，爆炸物

>食品，化妝品和藥品：添加劑控制，原材料，包裝材料

>科研，高校，材料研發(fā)

產(chǎn)品特點

•配備Peltier電制冷的FSDD硅漂移檢測器不僅具有出色的短期重復性和長期重現(xiàn)性，而且具有出色的元素峰分辨率

•能同時進行元素和氧化物成分分析

•特別設計的光路和真空系統(tǒng)大大提高了輕元素(Na, Mg, Al, Si, P）的測試靈敏度和準確性。可同時選配氦氣系統(tǒng)，實現(xiàn)液體和粉末樣品的直接測試

•八種光路準直系統(tǒng)，根據(jù)不同樣品大小自動切換，亦可測試樣品不同位置再求平均值，降低樣品不均勻性造成的誤差

•高清內(nèi)置攝像頭，清晰地顯示儀器所檢測的樣品部位

•可搭載樣品自旋平臺，增加樣品檢測面積，提高測試準確度和精密度。

立式X熒光材料分析光譜儀

搭載自旋平臺EDX8800 MAX結構圖

英飛思專用光譜儀成分分析軟件

英飛思軟件內(nèi)核-軟件核心算法包括FP基本參數(shù)法，Sherman方程EC經(jīng)驗系數(shù)法，阿爾法α理論參數(shù)法。依托于英飛思強大而穩(wěn)定的硬件系統(tǒng)，加載FP法核心后可以實現(xiàn)元素間增強吸收效應的校正。

>能夠使用非類似標樣標定測試；減少分析需要的標樣數(shù)，可以用一個或幾個標樣來分析寬范圍濃度變化的未知成分

>能量校準，波譜穩(wěn)定，自動譜峰元素鑒別，死時間修正，和峰修正，逃逸峰修正，重疊修正，背景扣除

>可實時刷新測量結果

>光譜顯示：譜峰重疊比較，可同時顯示多個光譜圖

>多種光譜強度計算方法，高斯擬合，純元素擬合，FP擬合，凈面積，全面積

典型應用測試報告

1合金應用案例

采用壓片法制備樣品，硅鐵粉末樣品10次測試穩(wěn)定性報告

測量次數(shù)	Si	Al	P	Ca	Cr	Fe	Ni	Cu	Ti	Mn
硅鐵-1	74.1916	1.9012	0.0217	2.033	0.0486	20.7858	0.0112	0.0243	0.0427	0.2371
硅鐵-2	74.0861	1.8382	0.0228	1.9934	0.0426	20.8245	0.0106	0.0222	0.0411	0.216
硅鐵-3	74.1615	1.8326	0.0228	1.9874	0.0425	20.7617	0.0106	0.0221	0.0412	0.2153
硅鐵-4	74.1673	1.8954	0.0217	2.0269	0.0484	20.7231	0.0114	0.0242	0.0426	0.2364
硅鐵-5	74.1118	1.8289	0.0227	1.9834	0.0424	20.7198	0.0104	0.0221	0.0409	0.2149
硅鐵-6	74.1178	1.8916	0.0216	2.0228	0.0483	20.6813	0.0112	0.0239	0.0425	0.236
硅鐵-7	74.1516	1.8062	0.0217	2.0131	0.0486	20.7652	0.0113	0.0241	0.0421	0.2351
硅鐵-8	74.1861	1.8532	0.0228	1.9814	0.0426	20.8015	0.0108	0.0222	0.0413	0.2162
硅鐵-9	74.1715	1.9346	0.0228	1.9754	0.0425	20.7607	0.0106	0.0221	0.0415	0.2143
硅鐵-10	74.1373	1.8958	0.0217	2.027	0.0484	20.7212	0.0108	0.0243	0.0421	0.2394
平均值	74.14826	1.8678	0.0222	2.0043	0.0455	20.7545	0.0109	0.0232	0.0418	0.2261
標準偏差	0.0343	0.0412	0.0006	0.0223	0.0031	0.0434	0.0004	0.0011	0.0007	0.0114
相對標準偏差	4.64%	3.91%	0.05%	2.11%	0.29%	4.11%	0.03%	0.10%	0.06%	1.07%

壓片樣品制備步驟：研磨制樣-稱重-混入粘合劑-使用壓片機壓片-上機測試

2原材料應用案例

采用熔片法制備樣品，石灰石樣品10次測試穩(wěn)定性報告

測量次數(shù)	MgO	Al₂O₃	SiO₂	S	K₂O	CaO	MnO	Fe₂O₃
石灰石標樣-1	0.511	0.101	0.338	0.095	0.044	91.166	0.008	0.115
石灰石標樣-2	0.529	0.106	0.338	0.095	0.046	91.255	0.007	0.111
石灰石標樣-3	0.524	0.104	0.348	0.089	0.045	91.038	0.008	0.113
石灰石標樣-4	0.511	0.103	0.328	0.091	0.045	91.327	0.007	0.110
石灰石標樣-5	0.523	0.103	0.348	0.093	0.044	90.883	0.007	0.106
石灰石標樣-6	0.534	0.109	0.357	0.092	0.048	91.124	0.007	0.115
石灰石標樣-7	0.515	0.098	0.346	0.091	0.045	91.143	0.008	0.110
石灰石標樣-8	0.545	0.103	0.328	0.091	0.047	91.079	0.007	0.110
石灰石標樣-9	0.531	0.104	0.348	0.098	0.045	90.722	0.007	0.114
石灰石標樣-10	0.546	0.097	0.339	0.095	0.045	90.772	0.007	0.116
平均值	0.525	0.103	0.342	0.093	0.045	91.043	0.007	0.112
標準偏差	0.0129	0.0034	0.0088	0.0026	0.0012	0.1916	0.0005	0.0031
相對標準偏差	2.46%	3.31%	2.59%	2.78%	2.67%	0.21%	6.85%	2.78%

快速熔片法樣品制備步驟：研磨制樣-稱樣-預氧化-加入熔樣試劑-熔片機熔片-冷卻-上機測試

3礦石應用案例

采用熔片法制備樣品，石英砂10次測試穩(wěn)定性報告

測量次數(shù)	MgO	Al₂O₃	SiO₂	CaO	TiO₂	Fe₂O₃
石英石-1	0.0754	0.0921	99.5393	0.0784	0.0072	0.0311
石英石-2	0.0615	0.0856	99.4563	0.0792	0.0071	0.0296
石英石-3	0.0646	0.0825	99.4271	0.0783	0.0072	0.0326
石英石-4	0.0718	0.0896	99.3529	0.0781	0.0082	0.0312
石英石-5	0.0687	0.0754	99.383	0.0783	0.0079	0.0295
石英石-6	0.0792	0.0765	99.3696	0.0781	0.0069	0.033
石英石-7	0.0659	0.0797	99.4711	0.0783	0.0067	0.0286
石英石-8	0.0729	0.0803	99.5004	0.0789	0.0073	0.0301
石英石-9	0.0776	0.0761	99.43296	0.08	0.008	0.0311
石英石-10	0.0631	0.0819	99.4739	0.0783	0.0063	0.0306
平均值	0.07007	0.08197	99.440656	0.07859	0.00728	0.03074
標準偏差	0.0062	0.0057	0.0595	0.0006	0.0006	0.0013
相對標準偏差	0.59%	0.54%	5.65%	0.06%	0.06%	0.13%

典型石英砂XRF光譜圖

立式X熒光材料分析光譜儀

材料檢測專家EDX8800M MAX

儀器參數(shù)

型號	EDX 8800M MAX
機型	落地式
探測器	FAST SDD （可選SUPER FAST SDD）
X射線激發(fā)源	ESI-G300 超薄鈹窗微焦斑0-2mA
高壓系統(tǒng)	0-70kV(低紋波)最小可調(diào):1kV
多道分線器	數(shù)字4096道
樣品自旋平臺控制系統(tǒng)	可擴展(選配)
真空系統(tǒng)	內(nèi)置
自動進樣器	10/12/14杯位可選
應用范圍	地礦，合金，土壤等
元素范圍	鈉Na11-鈾U92鈉鎂鋁硅檢出限高
可拓展元素	氟F9-镅Am95
主機接口	USB3.0
攝像頭	可變焦高清攝像頭
氦氣充氣系統(tǒng)	可擴展(選配)
輸入電壓	220V/20A
電源外設	穩(wěn)扦壓器帶凈化+隔離

儀器配置

>標準配置	>可選配置-樣品前處理系統(tǒng)
純Ag初始化標樣	磨樣機
真空泵（內(nèi)置）	手動壓片機：ESI30T
粉末樣品杯，液體樣品杯	自動壓片機：ESI30S
USB數(shù)據(jù)線	油品專用樣品杯
電源線	烘干箱
XRF測試薄膜（粉末，液體，油品）	ESI-900型光譜分析專用全自動熔樣機
儀器出廠和標定報告	電子秤
保修卡	標準樣品
高精度交流凈化穩(wěn)壓電源	150目篩子

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