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Simply the Best 先進(jìn)制成Peltier電制冷 FAST SDD硅漂移檢測器 真空光路配備薄膜濾光片技術(shù)，提高輕元素檢出限 可同時(shí)分析40種元素 可分析固體，液體，粉末和泥漿 進(jìn)口X光管管芯提供可靠樣品激發(fā)性能 無損檢測，快速分析（1-2分鐘出結(jié)果） 無需化學(xué)試劑，無耗材，更環(huán)保，更高效

ESI英飛思EDX8800M MAX光譜儀主要應(yīng)用于在第三方實(shí)驗(yàn)室及各種需要進(jìn)行高精度材料成分分析的場所。 EDX8800M MAX專注于對各種材料的主量，微量和痕量元素或化合物進(jìn)行定性和定量分析，廣泛應(yīng)用于：合金材料，貴金屬，鐵礦粉，有色金屬及粉末，冶金，金屬及非金屬礦物礦產(chǎn)，耐火材料、耐火原料、鈦白粉、石膏、催化劑、陶瓷、水泥、石灰、玻璃行業(yè)、石英、長石、方解石、粘土、巖棉、土壤、固廢、除塵灰

英飛思EDX9000B plus光譜儀主要應(yīng)用于采礦作業(yè)（勘探、開采、品位控制），工業(yè)礦物，生產(chǎn)水泥和建筑材料的原材料，耐火材料，陶瓷和玻璃，地球化學(xué)學(xué)術(shù)研究，考古等。其優(yōu)異的線性動(dòng)態(tài)范圍，可實(shí)現(xiàn)在水泥、礦物、采礦、金屬、玻璃和陶瓷行業(yè)進(jìn)行超高精度的過程控制和質(zhì)量控制。具有全新真空光路系統(tǒng)和超高分辨率技術(shù)的新一代Fast SDD檢測器，對輕、中、重元素和常見氧化物都可達(dá)到最佳分析效果。

英飛思EDX9000B配置了*基于Windows基本參數(shù)算法的FP（Fundamental parameter）軟件，同時(shí)配備了優(yōu)秀的高性能硬件，來滿足客戶對于復(fù)雜礦石樣品的元素分析需求。主要應(yīng)用于在采礦過程的所有階段進(jìn)行材料元素成分分析，無論是固體，合金，粉末，液體或者漿液，都可以輕松實(shí)現(xiàn)從鈉（Na）到鈾（U）元素的無損定性和定量分析，分析速度快，測試結(jié)果精確，儀器性能穩(wěn)定。