EDX-8800H 立式X熒光礦石分析光譜儀

Simply the Best

>美國AmpTek -FSDD探測器, 高分辨率高計數(shù)率>真空測試環(huán)境提供輕元素檢測效果>無損元素分析涵蓋11Na to 92U>適應各種復雜礦物樣品測試，固體，液體，合金，粉末和泥漿>多組合濾光片系統(tǒng)，有效提高微量元素檢出限>堅固的設計適用于于各種復雜而嚴苛的現(xiàn)場工作環(huán)境

EDX8800H MAX能量色散熒光光譜儀-材料成分分析專家

作為一款高性能的臺式能量色散X射線熒光（EDXRF）元素分析儀，新款EDX8800H MAX配置了基于Windows基本參數(shù)算法的FP（Fundamental parameter），同時配備了的高性能硬件，來滿足客戶對于復雜礦石樣品的元素分析需求。無論客戶的樣品是是固體，合金，粉末，液體或者漿液，

EDX8800H MAX都可以輕松實現(xiàn)從鈉（Na）到鈾（U）元素的無損定性和定量分析。更快的分析速度，更精確的測試結果，更穩(wěn)定的儀器性能，

使得EDX8800H MAX成為了客戶進行元素分析的最佳工具之一。

EDX8800H MAX專注于對地質材料的主量，微量和痕量元素進行定性和定量分析，其中包括：

•鐵礦• 銅礦• 鋁土礦•貴金屬礦產(chǎn)•稀土礦•原料•磷酸鹽•煤炭•鉛鋅礦•錳礦•鎳礦•石灰石•粘土•石膏•玻璃•土壤•水泥•耐火材料及其他等

EDX8800H MAX操作簡單，分析性能出色，同時還可拓展到以下應用

>塑膠及有機物：塑料材料PE，PVC，添加劑等元素分析>石油化工：燃料，潤滑油監(jiān)測，添加劑，磨損金屬等中的硫元素分析

>環(huán)境：廢水，空氣污染，土壤和地面，排放控制等>涂層厚度和薄膜：分析多層涂層，鋼涂層，雜質等>刑偵及公安：證據(jù)分析，材料匹配，爆炸物等>食品，化妝品和藥品：添加劑控制，原材料，有害金屬，包裝材料等

產(chǎn)品特點

作為一款專業(yè)為礦產(chǎn)元素分析而設計和生產(chǎn)的光譜儀，EDX-8800H MAX兼顧了耐用性，易于操作和高性價比。其顯著優(yōu)勢主要有：•無需或者很少的樣品制備，全程無損分析，一到三分鐘即可出結果•強大的基于Windows的FP（基本參數(shù)算法）軟件降低了基體效應的影響•高功率光管和電制冷的FSDD硅漂移檢測器不僅具有出色的短期重復性和長期重現(xiàn)性，而且具有出色的元素峰分辨率•能同時進行元素和氧化物成分分析•多重儀器硬件保護系統(tǒng)，并可通過軟件進行全程實時監(jiān)控, 讓儀器工作更穩(wěn)定、更安全•特別設計的光路和真空系統(tǒng)大大提高了輕元素(Na, Mg, Al, Si, P）的測試靈敏度和準確性，同時在測試Cd,Pb,Cr,Hg,Br,Cl等其他元素的靈敏度和穩(wěn)定性都有了明顯的提高•友好的用戶界面，可定制的分析報告，可一鍵打印測試報告，包括分析結果，樣品信息，光譜信息和樣品圖像•八種光路準直系統(tǒng)，根據(jù)不同樣品大小自動切換，亦可測試樣品不同位置再求平均值，降低樣品不均勻性造成的誤差•高清內置攝像頭，清晰地顯示儀器所檢測的樣品部位

礦產(chǎn)元素檢測專家EDX8800H MAX

>儀器參數(shù)

>儀器配置

功能強大而界面友好的測試軟件

界面清晰易用。選擇方法并輸入樣品識別信息后即可開始測量。軟件內核-基本參數(shù)法（FP）可輕松分析未知樣品。EDX8800H MAX已在工廠預安裝了軟件并進行了數(shù)據(jù)標定，客戶運行軟件即可立刻開始測試。無需每天重復標定。強大的軟件功能還提供了>一鍵初始化儀器，基體自動匹配>自動定性，半定量和定量分析，不同樣品測試譜圖可實時對比>光譜處理和校正，去除雙倍峰和逃逸峰干擾，降低元素吸收增強效應影響>光譜背景扣除，有效提高微量元素檢測精度>可實時刷新測量結果>簡單的流程欄向導可幫助用戶創(chuàng)建新的自定義標定曲線>可定制化測試報告，一鍵打印